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产品介绍
自持式設計，專注一維或二維測量平面、平行或圓柱表面的內部、外部、高度、深度、階梯和距離等任何幾何特征尺寸。 TESA MICRO-HITE實現(xiàn)一維和二維測量的強大功能和高性能，使用TESAIG-13測頭程序化功能探測行為誤差。 所有评价(0)
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